高斯摩新闻--引入OTSUKA大塚电子nanoSAQLA粒度测量仪原料颗粒质控

把控纳米颗粒分散稳定性｜高斯摩国际贸易落地 OTSUKA 大塚电子 nanoSAQLA 粒度测量仪，赋能川渝新材料半导体产业

近日，高斯摩国际贸易完成日本 OTSUKA 大塚电子 nanoSAQLA 多样品纳米粒度测量仪渠道落地，面向西南地区新材料、显示面板、半导体配套、新能源产业提供颗粒物性检测设备供货、选型评估与本地化技术支持，补齐高分子浆料、改性原料、功能膜涂布液的纳米颗粒粒度分布检测配套能力。

在 PVA 光学膜、改性工程塑料制造过程中，涂布液、改性填料、树脂乳液内部颗粒粒径大小、分散均匀程度，直接决定膜材表面品质。颗粒团聚、粒径分布异常，会直接诱发膜面针孔、麻点、雾度偏高等缺陷，造成成品良率下降。传统检测手段普遍存在样品需要大量稀释、样品交叉污染、单次检测效率偏低的痛点。伴随川渝双城经济圈新材料产业持续扩产，以重庆光谱新材料科技有限公司为代表的功能膜制造企业，在配方研发、原料来料检验、涂布液工艺调试阶段，对高通量、可测高浓度原液、无交叉污染的粒度检测设备需求持续提升。

OTSUKA 大塚电子 nanoSAQLA 粒度测量仪采用动态光散射法，依托高功率半导体激光光源，通过解析纳米颗粒布朗运动带来的散射光波动，获取样品粒径与粒度分布数据。设备采用非浸入式检测单元，激光外部穿透样品，检测组件不接触样品，规避不同样品之间交叉污染，无需自动进样器，多支持 5 组样品连续检测，单组样品检测时长约 1 分钟，实现高通量筛查。测量粒径覆盖 1nm‑10000nm，适配 0.00001%‑40% 宽浓度区间，高浓度浆料可以直接原液测试，减少稀释带来的数据失真问题，内置温度控制模块，可模拟实际工艺温度开展测试，配套专业分析软件，完整留存粒度分布曲线、统计数据，方便研发对比、工艺复盘以及体系审核归档。

针对光学膜、改性树脂生产场景，nanoSAQLA 粒度测量仪可用于 PVA 涂布液、改性填料粉体、高分子乳液的粒度分析，评估填料分散效果，甄别原料批次差异，优化配方与搅拌工艺，提前规避颗粒团聚带来的膜材。除新材料膜材制造企业以外，该设备同样适配半导体 CMP 抛光浆料检测、新能源导电浆料、化工高分子材料、科研实验室胶体体系评价等场景，满足多行业纳米颗粒物料研发与品质管控需求大塚电子。

高斯摩国际贸易立足成都，辐射四川、重庆、贵州、云南西南全域，持续扩充日系精密检测仪器、工业设备品牌矩阵。针对新材料、半导体客户，除 OTSUKA 大塚电子检测仪器以外，还可联动高斯摩国际贸易，提供检测仪器、工艺设备、半导体零部件一站式配套，可提供原厂报关单证、出厂资料，满足企业体系审核、项目验收需求。依托本地服务能力，可完成设备选型对接、试样确认、交付跟进，解决进口仪器选型繁琐、交期周期长、售后响应滞后的行业痛点。

相关负责人表示，后续将持续导入 OTSUKA 大塚电子 ELSZ 系列 Zeta 电位粒径一体机、各类光学膜厚检测设备，面向西南新材料、半导体、新能源客户输出完整材料物性检测解决方案。围绕功能膜、工程塑料、半导体配套零部件制造产业，把粒度测量仪与测厚设备、气体分析仪、环境检测仪器形成配套组合，为西南制造企业提供从产线工艺到品质质控的完整支持。

产品基础信息

产品型号：OTSUKA 大塚电子 nanoSAQLA 多样品纳米粒度测量仪产品类别：物性检测・粒度测量仪测量原理：动态光散射法（光子相关法）粒径测量范围：1nm‑10000nm浓度适配范围：0.00001%‑40%核心功能：非浸入无交叉污染、多 5 个样品连续检测、单样约 1 分钟高速检测、温度梯度控制、原液直接测量、粒度分布数据存储导出适用样品：高分子乳液、涂布液、改性填料粉体、CMP 浆料、各类纳米胶体适用行业：新材料膜材制造、半导体配套、新能源浆料、化工高分子、科研实验室