产品名称：SANKO三高 膜厚计

SANKO三高  SFe-0.6L 膜厚计

SANKO三高  SFe-0.6L  膜厚计

特色

探头的兼容性允许与主机自由组合。

根据被测物体的不同，它连接用于铁质基（电磁基）或非铁金属（涡流类型）。

探针可根据应用和测量范围选择，例如适合测量微小碎片的高稳定性探头。

基本金属的自动识别与判断（SFN-325）。

探头（单独出售）电磁电流双用途

类型名称

SFe-0.6L

SFe-0.6LNA

SFe-0.6笔

测量方法

电磁感应

测量范围

0〜600μm

结局

1μm：0~600μm
0.1μm：0~400μm
0.5μm：400~500μm

测量精度
（垂直于光滑表面测量）

0~100微米：±1微米
或指示值±2%以内
。101微米-600微米：指示值±2%以内

探针

1点恒压接触
测量部件：8.1×13.5×118.5毫米

1点恒压接触
测量部分：8.6×18×91毫米
全长：382.5毫米

1点恒压接触型，V型切割
φ5.6×92.2毫米

配件

标准板，测试零板（用于铁板）

测量对象

用于铁和钢等磁性金属表面的涂层，测量内
衬等狭窄区域的涂层厚度，以及难以
触及的小区域

用于磁性金属表面如铁和钢的涂层，测量狭窄区域（如
衬里）和
小区域的涂层厚度