产品名称：SANKO三高 膜厚计

SANKO三高  SNFe-5  膜厚计

SANKO三高  SNFe-5  膜厚计

特色

探头的兼容性允许与主机自由组合。

根据被测物体的不同，它连接用于铁质基（电磁基）或非铁金属（涡流类型）。

探针可根据应用和测量范围选择，例如适合测量微小碎片的高稳定性探头。

基本金属的自动识别与判断（SFN-325）。

探头（单独出售）电磁电流双用途

类型名称

SNFe-0.6

SNFe-5

SNFe-8

测量方法

涡流

测量范围

0~600微米

0~5.00毫米

0~8.00毫米

结局

1μm：0~600μm
0.1μm：0~400μm
0.5μm：400~500μm

1μm：0~999μm
0.01mm：1~5mm

1μm：0~999μm
0.01mm：1~8mm

测量精度
（垂直于光滑表面测量）

0-100微米：±1微米
或指示值
±2%以内;101微米至600微米：
指示值±2%以内

0-3毫米：40±（5微米+指示值的3%） 超过
3.01毫米：在指示值±3%以内

探针

1点恒压接触型，V
型切割
φ13×45.5毫米

V
型切口
φ20.4×47.1毫米的一点恒压接触型

V
型切口
φ35×59毫米的一点恒压接触型

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配件

标准板，测试零板（针对有色金属）

测量对象

地面上的铝和铜等非磁性金属绝缘膜

对于细圆杆、管子、微型件等的高稳定性。

对于相对较厚的测量物体