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产品详情
  • 产品名称:Olympus 奥林巴斯 物镜

  • 产品型号:CPLFLN10XRC
  • 产品厂商:Olympus 奥林巴斯
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简单介绍:
平场半复消色差反射专用物镜,依托无限远校正光路打造,可有效校正场曲与色差,全域成像平整清晰。长工作距离设计操作空间充足,标准化结构适配主流显微设备,专注于不透明样本的反射式观测,适用于材料检视与常规科研分析场景。
详情介绍:


Olympus 奥林巴斯 物镜 CPLFLN10XRC

Olympus 奥林巴斯 物镜 CPLFLN10XRC


规格参数

奥林巴斯 CPLFLN10XRC 物镜拥有 10 倍放大倍率,采用无限远校正光学系统,完全匹配主流显微镜的光路配置。数值孔径参数合理,在保障解析能力的同时,适配反射光路的光线传播特性。视场数为 22 毫米,观测视野开阔,能够单次覆盖较大范围的样本区域,提升整体观测效率。设备采用通用 W20.32×0.706 RMS 螺纹接口,齐焦距离设定为 45 毫米,和同系列不同规格物镜搭配使用时,切换倍率无需重新对焦。整体机械结构经过精密加工,尺寸规格统一,安装后稳固可靠,可长期在实验室环境中持续运行,适配各类常规观测条件。


核心功能特性

本款物镜采用平场半复消色差光学结构,能够有效校正可见光范围内的色差与场曲问题,消除画面边缘畸变、模糊以及色彩偏差,让整个视场内的成像效果保持均匀一致。针对反射式观测光路进行专项优化,光线收集能力出色,可充分接收不透明样本表面的反射光线,提升画面亮度与层次感。长工作距离的设计预留出充足操作空间,方便样本摆放、位置调整以及各类辅助操作,使用过程更加灵活。内部光学元件装配严谨,光路损耗低,光学性能稳定,经过长时间使用也不会出现参数偏移,始终维持稳定的成像表现。


主要应用范围

该物镜主要面向反射显微观测相关领域,在材料科学中应用广泛,可用于金属材质、合金制品、半导体基材、各类涂层与薄膜等不透明样品的微观形貌观察,分析样本表面纹理、组织结构以及缺陷状态。在工业检测领域,能够完成精密零部件、电子元器件的表面微观检视,辅助开展常规质量排查工作。同时也可应用于地质样本、硬质复合材料的观测分析,以及高校、科研机构相关专业的实验教学与基础研究工作,满足不透明样本常规观测与数据记录的使用需求。
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