产品名称：OTSUKA 大塚电子 动态散射光度计

OTSUKA 大塚电子 DLS-8000 系列动态散射光度计 纳米颗粒粒径分布专业检测

OTSUKA 大塚电子 DLS-8000 系列动态散射光度计 纳米颗粒粒径分布专业检测

1、设备基础定位与检测原理
DLS-8000 系列采用动态光散射检测原理，通过采集颗粒布朗运动产生的散射光强度波动，经相关函数运算得出粒径与分布数据。系列区分单激光机型（HL/DL）与双激光复合机型（HH/DH），双激光结构可削弱高浓度样品多重散射干扰，减少样品稀释操作对分散状态的改变。设备搭载多角度散射接收结构，可根据样品浊度切换检测角度，适配透明稀胶体、高浊度纳米浆料两类工况，整机光路基座稳定性强，降低环境震动对检测数据的影响。
2、系列细分机型与核心性能参数
系列包含四款基础子型号：DLS-8000HL、DLS-8000HH、DLS-8000DL、DLS-8000DH；HL/DL 搭载单氦氖激光，HH/DH 搭配氦氖激光 + 固体双激光组合。设备粒径检测覆盖完整纳米区间，可满足超细纳米粉体、高分子胶束、脂质体等样品测试；配套算法支持高分子分子量同步计算，适配多糖、蛋白、合成树脂等高分子溶液。设备内置恒温控温样品仓，温度区间覆盖常规实验测试范围，控温稳定，适配温度敏感型生物试样。多次重复检测数值波动区间可控，单次检测周期短，支持批量样品连续自动测量。
3、配套样品池与软件功能
设备标配标准石英样品池，可选配微量样品池、大容量流通样品池，适配微量贵重生物样品与产线在线流通监测需求。配套专用分析软件内置多种拟合解析模型，可输出粒径分布曲线、平均粒径、多分散指数、分子量等数据，自动生成完整检测报告。整机配备通用数据传输接口，全部原始散射信号与结果报表可导出归档，软件内置材料数据库，常规溶剂、高分子材料参数可直接调取，减少手动建模操作。