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产品详情
  • 产品名称:艾目微电动振动器 大位移高推力

  • 产品型号:J230
  • 产品厂商:IMV艾目微
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简单介绍:
IMV 艾目微 J230 振动试验台标配**平行坡度导轨支撑结构,额定正弦加振力 16kN,具备大位移测试行程,工作频率区间覆盖 0 至 3000Hz。整机风道经过流体优化降低运行噪音,台面支持恒温恒湿箱体底部直连,兼容正弦、随机、冲击多类测试波形,独立大容量风冷系统可长时间满载开展复合环境可靠性试验,工装装夹与程序调试标准化操作简单。
详情介绍:


IMV 艾目微 SA1HAG 大位移高推力

IMV 艾目微 SA1HAG 大位移高推力


(一)产品规格参数
J230 整套振动试验系统由 J230 台体搭配 SA3HAG 功率驱动单元、独立风冷风机组件组成,台面为标准圆形结构,直径 200mm,盘面均匀布设统一规格螺纹安装孔,孔距遵循通用工装基准,可快速固定各类测试夹具与中型、大型试样。设备振动工作频率覆盖 0 至 3000Hz,完整覆盖高低频全场景检测需求,正弦、随机波形额定加振力均为 16kN,冲击峰值出力可达 40kN,大位移 100mmp-p,速度、加速度指标可满足汽车、新能源、航空电子主流行业检测标准。运动部件质量 17kg,整机大容许试样负载 300kg,容许偏心力矩充足,适配多夹具叠加、偏心试样装配工况。配套 SA3HAG 驱动单元采用三相工业供电制式,系统功率配置匹配台体满载运行需求,外置独立风冷机组持续为动圈、磁路核心部件输送循环气流,无需额外水冷配套。台体一体化框架成型,整体布局规整,实验室占用空间可控,内部线路分区隔离收纳,减少长期震动带来的线路磨损,振动频率、加速度、位移等全部运行参数均可在配套控制终端实时调取,操作人员经过基础流程培训,即可独立完成试验程序编辑、试样装夹与设备启停管控。
(二)产品核心性能细节
J230 台体搭载PS 平行坡度导轨支撑机构,运动部件导向刚性充足,大位移、高加速度长时间测试工况下,能够有效抑制台面横向偏移,全程维持垂直振动输出精度,不会出现振幅失衡、台面晃动等影响测试数据的问题。整机进气风道采用流体动力学优化设计,气流循环均匀顺畅,长时间满载连续测试过程中,动圈与磁路组件产生的热量可快速导出,规避内部积热造成波形、出力参数漂移,同时气流运行噪音控制在较低区间,不会干扰实验室日常检测环境。台体外壳采用全密封防尘结构,可阻挡实验室漂浮粉尘侵入内部精密磁路与动圈组件,减缓精密零部件磨损速度,延长设备稳定使用周期。配套 SA3HAG 驱动单元内置多重稳压与波形校正模块,电网电压小幅波动时,加振力、频率输出不会发生突变,正弦扫频、随机振动、冲击波形切换过渡平缓,无瞬时冲击载荷损伤试样与设备本体。台面底部预留标准对接结构,无需定制转接工装即可与恒温恒湿试验箱体直连,同步开展温湿度、振动复合环境试验,复合工况下振动输出精度保持稳定,无需反复校正参数。系统搭载智能负载适配模块,可根据实时试样重量自动调节散热风量与功率输出,降低长期连续测试的能耗消耗。
(三)设备适用使用场景
J230 振动试验系统适配大中型动力电池模组、整车车载电控配件、航空通讯终端、大型工业仪表的全流程可靠性检测,可模拟公路长途物流、仓储堆叠、整车搭载过程中的随机振动工况,验证产品结构强度、焊点、线束与内部元器件耐久性能。大中型塑胶、五金结构件研发验证阶段,可开展全频段正弦扫频测试,精准定位产品共振频率点,辅助研发人员优化结构设计规避共振失效。冲击模拟测试场景下,能够复刻运输跌落、设备撞击瞬时受力状态,检测外壳、连接器、内部电路板耐受冲击能力。新能源零部件、车载控制器出厂批量筛查工序,依托大承载台面可同时装夹多组试样,完成出厂耐振抽检作业。设备可搭配高低温湿热箱搭建一体化复合环境测试平台,适配新能源制造、汽车零部件、第三方权威检测实验室、航空科研院校力学试验等场景,单台大型试样或多件中小型试样叠加测试均可稳定适配,同时满足国内外主流 IEC、ISO 环境振动测试标准的试验要求。

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