产品名称：双光源｜大塚电子动态光散分析仪

双光源精密解析｜大塚电子 DLS-8000HL 动态光散射粒径分析仪

双光源精密解析｜大塚电子 DLS-8000HL 动态光散射粒径分析仪

（一）产品规格参数
大塚电子 DLS-8000HL 动态光散射粒径分析仪采用专业双激光光源架构，搭载氦氖激光与固态激光组合配置，搭配高灵敏度光电倍增管探测器，以光子计数模式完成信号采集，可精准捕捉低浓度、弱散射样品的微弱光信号，有效提升细微颗粒检测精度。设备整合动态光散射与静态光散射双重检测原理，可同步完成颗粒粒径、粒径分布、分子量、回转半径及维里系数等多项核心参数的检测分析。检测角度支持 5° 至 160° 全自动多角度扫描，由步进电机精准驱动，角度控制精度可达 ±0.1°，适配高分子体系角度依赖性物性检测。温控系统支持 5℃至 90℃恒温调控，适配常温及常规温控场景下的样品稳态检测，可搭配标准规格圆柱形样品池与微型样品池，满足不同样品用量的检测需求，适配低浓度胶体、高分子溶液等常规样品体系的标准化检测。
（二）核心产品特性
DLS-8000HL 核心特性聚焦低浓度样品高精度检测与多参数一体化解析，主打稳态、精准、标准化检测能力，适配基础科研与常规质控场景。设备搭载液浸式光学检测系统，可大程度降低光路损耗，针对纳米级微弱散射样品实现稳定精准检测，解决低浓度样品信号弱、数据波动大的问题。双激光光源协同工作模式，可根据样品散射强度自动适配优光源输出，兼顾不同物性样品的检测适配性，有效提升粒径与分子量解析的准确性。多角度自动扫描功能，可精准捕捉高分子样品的光散射角度依赖特性，精准计算高分子回转半径与分子构象参数。设备采用标准化检测程序，参数标定规范，运行过程稳定性强，无冗余功能设计，聚焦常规检测场景的核心需求，操作流程标准化，降低人为操作带来的数据偏差，适配长期常态化精准检测作业。